EOS/ESD KONFERENCIA 2020/I.

Korunk ESD kockázatai közül az EOS esemény egy jelentős részt hasít ki, melynek kezeléséről az ESD koordinátor és felelős végzettségű személyzetnek kell gondoskodnia. Fontos, hogy ismerje ezen káros esemény elektrosztatikai hátterét és annak mérését illetve, EOS/ESD védelmi lehetőségeit. Az EOS/ESD konferencia ezen szakmai részeket taglalja, mérésekkel és fizikai példákkal kiegészítve.

A KÉPZÉS IDŐPONTJA
2021 szeptember

A KONFERENCIA HELYSZÍNE

GOD-MIN Mérnöki KFT.,
H-2800 Tatabánya, Tavaszmező u. 4/D

ELŐADÓK

Maczkó László, Dr. Gordon Péter, Dr. Lovász Gábor, Simig Balázs, Benke Gábor, Godó Attila

KONFERENCIA KÖLTSÉGE

99.000.- Ft+ÁFA/Fő

JELENTKEZÉS

Tel: +00 36 30 216-4583

Jelentkezési lap letöltése

A jelentkezési lapot kérjük a godo.attila@godmin.hu címre elküldeni.

A KÉPZÉS TARTALMA

1. nap – tervezett kezdés 09:00

ESD koordinátori feladatok Bevezető előadás /Godó Attila/
ESD/EMC/EOS alapfogalmak, rövidítések /Maczkó László/
Az elektrosztatika (ESD) elméleti ismeretei /Maczkó László/

  • Elektrosztatikus feltöltődés
  • Emberek elektrosztatikus feltöltődése
  • Elektrosztatikus kisülés
  • ESDS – ESD jelenségre érzékeny alkatrészek
  • ESD modellek (HBM, CDM, MM, FICDM
  • ESD kisülések hatása az alkatrészekre (Adatkárosodás, latens hiba, totál kiesés)
  • Ionizáció (ionok keletkezése, térionizáció, ionok előállítása
  • Árnyékolás
  • Töltés levezetési idő
  • Elektrosztatikus adhézió

Elektromágneses összeférhetőség EMC /Maczkó László/

  • EMC meghatározása
  • Elektromágneses zavarás (EMI) fajtái
  • Csatolási mechanizmusok
  • Galvanikus, Kapacitív, Induktív, Elektromágneses sugárzás
  • Az elektromágneses tér árnyékolása
  • Árnyékoló és vezetőképes műanyagok
  • EMC figyelembevétele az elektronikai készülékek tervezésénél
  • Zavarszűrés
  • EMC mérések
  • EMC szabványok

Az elektronikai termékek gyártása alatt keletkező hibák /Maczkó László/

  • Alkatrészek sérülése
  • Kerámiakondenzátor (chip C) sérülése
  • Sérült minőségileg kifogásolható alkatrészek beültetése
  • Hiányosságok, sérülések a NYÁK-on
  • Alkatrészek sérülése a gyártás alatt
  • Alkatrészek sérülése az üzemeltetésük alatt
  • Idegen anyag az elektronikában
  • Óngolyó, cingyöngy
  • Fémszál, pamutszál, fémforgács
  • Egyéb anyagok
  • Beültetési hibák
  • Elektrolit- és tantál kondenzátorok
  • Kezelési szabályok kézi beültetésnél
  • Forrasztási hibák
  • Zárlatok

Elektromos túlterhelés EOS /Maczkó László/

  • Mit jelent az EOS?
  • Mi okozhat EOS-t?
  • EOS és ESD
  • EOS károsodás fajtái
  • EOS események lehetősége az elektronikai gyártásban

ESD szabványok

  • IEC 61340 /Maczkó László/
  • ANSI S20.20 /Lovász Gábor/

ESD/EOS védőintézkedések /Maczkó László/

  • Személyi felszerelések
  • EPA terület
  • Berendezések az EPA-n belül

Védőintézkedések felügyelete /Maczkó László/

  • Periodikus felülvizsgálat
  • Checklista
  • Dokumentálás
  • Nem megfelelőség esetén alkalmazandó eljárások

tervezett zárás 16:00

2. nap – tervezett kezdés 09:00

Az elektrosztatika ipari alkalmazása

   – Új mérőeszközök /Godó Attila/

ESD Audit /Simig Balázs/

Rizikóanalízis. Termékvizsgálat az SMT gyártósoron /Maczkó  László/

Gyártóberendezések ESD megfelelősége /Maczkó László/

    – Gyártóberendezések átvételi mérése

    – Gyártóberendezések alkatrészeinek megfelelősége

       – ESDS-el való érintkezés nélkül

       – ESDS-el való érintkezéssel

       – NYÁK-al való érintkezés

    – Potenciálkiegyenlítés lehetőségei

ESD mérések /Maczkó László/

Esemény detektorok, esemény számlálók /Lovász Gábor/

ESD védelem kiépítése a gyakorlatban /Benke Gábor/

Alkatrészek ESD/EOS meghibásodásainak vizsgálata / Dr. Gordon Péter/

Záró előadás /Godó Attila/

tervezett zárás 16:00

JELENTKEZÉS

Tel: +00 36 30 216-4583

Jelentkezési lap letöltése

A jelentkezési lapot kérjük a godo.attila@godmin.hu  címre elküldeni.