EOS/ESD KONFERENCIA 2021/II.

Korunk ESD kockázatai közül az EOS esemény egy jelentős részt hasít ki, melynek kezeléséről az ESD koordinátor és felelős végzettségű személyzetnek kell gondoskodnia. Fontos, hogy ismerje ezen káros esemény elektrosztatikai hátterét és annak mérését illetve, EOS/ESD védelmi lehetőségeit. Az EOS/ESD konferencia ezen szakmai részeket taglalja, mérésekkel és fizikai példákkal kiegészítve.

A KÉPZÉS IDŐPONTJA
2021.10.27-28.

A KONFERENCIA HELYSZÍNE

GOD-MIN Mérnöki KFT.,
H-2800 Tatabánya, Tavaszmező u. 4/D

ELŐADÓK

Maczkó László, Dr. Lovász Gábor, Benke Gábor, Godó Attila

KONFERENCIA KÖLTSÉGE

125.000. Ft/Fő+ÁFA

JELENTKEZÉS

Tel: +00 36 30 216-4583

Jelentkezési lap letöltése

A jelentkezési lapot kérjük a godo.attila@godmin.hu címre elküldeni.

A KÉPZÉS TARTALMA

1. nap – tervezett kezdés 09:00

ESD koordinátori feladatok Bevezető előadás /Godó Attila/
ESD/EMC/EOS alapfogalmak, rövidítések /Maczkó László/
Az elektrosztatika (ESD) elméleti ismeretei /Maczkó László/

  • Elektrosztatikus feltöltődés
  • Emberek elektrosztatikus feltöltődése
  • Elektrosztatikus kisülés
  • ESDS – ESD jelenségre érzékeny alkatrészek
  • ESD modellek (HBM, CDM, MM, FICDM)
  • ESD kisülések hatása az alkatrészekre (Adatkárosodás, latens hiba, totál kiesés)
  • Ionizáció (ionok keletkezése, térionizáció, ionok előállítása
  • Árnyékolás
  • Töltés levezetési idő
  • Elektrosztatikus adhézió

Az elektronikai termékek gyártása alatt keletkező hibák  /Maczkó László/

  • EMC meghatározása
  • Elektromágneses zavarás (EMI) fajtái
  • Csatolási mechanizmusok
  • Galvanikus, Kapacitív, Induktív, Elektromágneses sugárzás
  • Az elektromágneses tér árnyékolása
  • Árnyékoló és vezetőképes műanyagok
  • EMC figyelembevétele az elektronikai készülékek tervezésénél
  • Zavarszűrés
  • EMC mérések
  • EMC szabványok

Az elektronikai termékek gyártása alatt keletkező hibák /Maczkó László/

  • Alkatrészek sérülése
  • Kerámiakondenzátor (chip C) sérülése
  • Sérült minőségileg kifogásolható alkatrészek beültetése
  • Hiányosságok, sérülések a NYÁK-on
  • Alkatrészek sérülése a gyártás alatt
  • Alkatrészek sérülése az üzemeltetésük alatt
  • Idegen anyag az elektronikában
  • Óngolyó, cingyöngy
  • Fémszál, pamutszál, fémforgács
  • Egyéb anyagok
  • Beültetési hibák
  • Elektrolit- és tantál kondenzátorok
  • Kezelési szabályok kézi beültetésnél
  • Forrasztási hibák
  • Zárlatok

Elektromos túlterhelés EOS /Maczkó László/

  • Mit jelent az EOS?
  • Mi okozhat EOS-t?
  • EOS és ESD
  • EOS károsodás fajtái
  • EOS események lehetősége az elektronikai gyártásban

ESD szabványok

  • IEC 61340 /Maczkó László/
  • ANSI S20.20 /Lovász Gábor/
  • Új szabványok 2021/2022 (Godó Attila)

ESD/EOS védőintézkedések /Maczkó László/

  • Személyi felszerelések
  • EPA terület
  • Berendezések az EPA-n belül

Védőintézkedések felügyelete /Maczkó László/

  • Periodikus felülvizsgálat
  • Checklista
  • Dokumentálás
  • Nem megfelelőség esetén alkalmazandó eljárások

Rizikóanalízis. Termékvizsgálat az SMT gyártósoron /Maczkó László/

tervezett zárás 16:00

2. nap – tervezett kezdés 09:00

Gyártóberendezések ESD megfelelősége /Maczkó László/

ESD mérések /Maczkó László – GOD-MIN LABORATORY/

EM EYE mérőkészülék és annak gyakorlati használata /Lovász Gábor – GOD-MIN Laboratory/

ESD védelem kiépítése egy új terméknél /Benke Gábor – Continental/

ESD, EOS, EMC, EMI az elektronikai termékek működési rendellenességei című könyv rövid ismertetése /Maczkó László/

Záró előadás – ESD akkreditáció, EMC elektrosztatikai vizsgálatok /Godó Attila/

tervezett zárás 16:00

JELENTKEZÉS

Tel: +00 36 30 216-4583

Jelentkezési lap letöltése

A jelentkezési lapot kérjük a godo.attila@godmin.hu  címre elküldeni.